[发明专利]厚度侦测机构无效
| 申请号： | 200910159137.0 | 申请日： | 2009-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN101957180A | 公开（公告）日： | 2011-01-26 |
| 发明（设计）人： | 潘永太 | 申请（专利权）人： | 致伸科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06;B32B37/06;B02C18/00 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 周建秋 |
| 地址： | 中国台湾台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种厚度侦测机构，用以测量一待测物的厚度，包括侦测臂以及光学位移感测模块。侦测臂于侦测物通过时会被抵顶而移动，且侦测臂具有一表面。该厚度侦测机构分别感测位于第一位置的侦测臂的表面以及位于第二位置的侦测臂的表面，并计算侦测臂由第一位置移动至第二位置的位移量而测量待测物的厚度。本发明厚度侦测机构的结构较简单且组件数量较少，可降低材料上的成本以及组装成本，不但具有经济效应，还可缩小厚度侦测机构的体积，可应用于各种需要进行厚度侦测机构的电子设备中。 | ||
| 搜索关键词： | 厚度 侦测 机构 | ||
【主权项】：
一种厚度侦测机构，用以侦测进入一电子设备的一待测物的厚度，其特征在于，包括：侦测臂，用以于该待测物进入该电子设备时受待测物的抵顶而移动；其中该侦测臂未被该待测物抵顶时，该侦测臂位于一第一位置，而该侦测臂被该待测物抵顶时，该侦测臂位于一第二位置；以及光学位移感测模块，位于该侦测臂的一侧，用以侦测该侦测臂由该第一位置移动至该第二位置的位移量而获得该待测物的厚度。
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