[发明专利]试样分析装置有效
| 申请号： | 200910161548.3 | 申请日： | 2009-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN101639418A | 公开（公告）日： | 2010-02-03 |
| 发明（设计）人： | 小坂时弘;大久保孝一 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社 |
| 主分类号： | G01N1/14 | 分类号： | G01N1/14;G01N35/02;G01N35/04;G01F23/00 |
| 代理公司： | 北京金之桥知识产权代理有限公司 | 代理人： | 刘良勇 |
| 地址： | 日本兵库县神户市*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种试样分析装置，包括：试样量获取模块，获取关于试样容器中试样量的试样量信息；吸移器，吸移装在所述试样容器中的所述试样；测定单元，测定所述吸移器吸移的所述试样；及吸移控制模块，根据所述试样量获取模块获取的所述试样量信息，控制所述吸移器。 | ||
| 搜索关键词： | 试样 分析 装置 | ||
【主权项】：
1.一种试样分析装置，包括：试样量获取模块，获取关于试样容器中试样的量的试样量信息；吸移器，吸移装在所述试样容器中的所述试样；测定单元，测定所述吸移器吸移的所述试样；及吸移控制模块，根据所述试样量获取模块获取的所述试样量信息，控制所述吸移器。
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