[发明专利]荧光材料及采用该荧光材料的闪烁器和放射线检测器有效

专利信息
申请号: 200910162281.X 申请日: 2009-07-31
公开(公告)号: CN101638578A 公开(公告)日: 2010-02-03
发明(设计)人: 中村良平;上田俊介 申请(专利权)人: 日立金属株式会社
主分类号: C09K11/80 分类号: C09K11/80;G01T1/202
代理公司: 北京英特普罗知识产权代理有限公司 代理人: 齐永红
地址: 日本东*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及一种荧光材料及采用该荧光材料的闪烁器和放射线检测器。所述荧光材料的特征在于,以Ce作为发光元素,至少含有Gd、Al、Ga、O及Si,M为Mg、Ti、Ni中的至少一种,以下面的通式表示:(Gd1-x-zLuxCez)3+a(Al1-u-sGauScs)5-aO12。其中:0≤a≤0.15,0≤x≤0.5,0.0003≤z≤0.0167,0.2≤u≤0.6,0≤s≤0.1,Si、M的浓度为:0.5≤Si浓度质量ppm≤10,0≤M浓度质量ppm≤50。该荧光材料具有发光强度高并且在X射线停止照射1-300ms后残光低的特点。
搜索关键词: 荧光 材料 采用 闪烁 放射线 检测器
【主权项】:
1、一种荧光材料,其特征在于以Ce作为发光元素,至少含有Gd、Al、Ga、O及Si,M为Mg、Ti、Ni中的至少一种,以下面的通式表示:(Gd1-x-zLuxCez)3+a(Al1-u-sGauScs)5-aO12其中:0≤a≤0.15,0≤x≤0.5,0.0003≤z≤0.0167,0.2≤u≤0.6,0≤s≤0.1,Si、M的浓度为:0.5≤Si浓度质量ppm≤10,0≤M浓度质量ppm≤50。
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