[发明专利]荧光材料及采用该荧光材料的闪烁器和放射线检测器有效
申请号: | 200910162281.X | 申请日: | 2009-07-31 |
公开(公告)号: | CN101638578A | 公开(公告)日: | 2010-02-03 |
发明(设计)人: | 中村良平;上田俊介 | 申请(专利权)人: | 日立金属株式会社 |
主分类号: | C09K11/80 | 分类号: | C09K11/80;G01T1/202 |
代理公司: | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 | 代理人: | 齐永红 |
地址: | 日本东*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及一种荧光材料及采用该荧光材料的闪烁器和放射线检测器。所述荧光材料的特征在于,以Ce作为发光元素,至少含有Gd、Al、Ga、O及Si,M为Mg、Ti、Ni中的至少一种,以下面的通式表示:(Gd1-x-zLuxCez)3+a(Al1-u-sGauScs)5-aO12。其中:0≤a≤0.15,0≤x≤0.5,0.0003≤z≤0.0167,0.2≤u≤0.6,0≤s≤0.1,Si、M的浓度为:0.5≤Si浓度质量ppm≤10,0≤M浓度质量ppm≤50。该荧光材料具有发光强度高并且在X射线停止照射1-300ms后残光低的特点。 | ||
搜索关键词: | 荧光 材料 采用 闪烁 放射线 检测器 | ||
【主权项】:
1、一种荧光材料,其特征在于以Ce作为发光元素,至少含有Gd、Al、Ga、O及Si,M为Mg、Ti、Ni中的至少一种,以下面的通式表示:(Gd1-x-zLuxCez)3+a(Al1-u-sGauScs)5-aO12其中:0≤a≤0.15,0≤x≤0.5,0.0003≤z≤0.0167,0.2≤u≤0.6,0≤s≤0.1,Si、M的浓度为:0.5≤Si浓度质量ppm≤10,0≤M浓度质量ppm≤50。
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