[发明专利]光学式测距传感器和电子仪器有效

专利信息
申请号: 200910162934.4 申请日: 2009-08-20
公开(公告)号: CN101655350A 公开(公告)日: 2010-02-24
发明(设计)人: 山口阳史;久保胜;福岛稔彦 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: G01B11/14 分类号: G01B11/14;G01C3/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 岳雪兰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种光学式测距传感器,具备:与发光元件设置在同一平面上的受光元件(2)。受光元件(2)包括:受光部(21),其具有多个单元(21A)且把从发光元件(1)发出而由被测定物反射的光进行聚光;闪存部(25),其记忆受光部(21)中的规定位置;信号处理电路部(22),其根据由多个单元(21A)得到的所述光的检测结果来检测受光部(21)中所述光的聚光位置,而且根据闪存部(25)记忆的规定位置与受光部(21)中所述光的聚光位置的相对关系来计测距测定物的距离。
搜索关键词: 光学 测距 传感器 电子仪器
【主权项】:
1、一种光学式测距传感器,是通过三角测量方式来检测距被测定物距离的光学式测距传感器,其中,具备:发光元件(1)、与所述发光元件(1)设置在同一平面上的受光元件(2)、把所述发光元件(1)和所述受光元件(2)分别封固的第一和第二透光性树脂部(3)、分别设置在所述发光元件(1)和所述受光元件(2)前方的第一和第二透镜(4)、为了在所述发光元件(1)与所述受光元件(2)之间形成规定的间隔而保持所述发光元件(1)和所述受光元件(2)的遮光性树脂部(5),所述受光元件(2)包括:受光部(21),其具有多个单元(21A)且把从所述发光元件(1)发出而由所述被测定物反射的光进行聚光;存储部(25),其记忆所述受光部(21)中的规定位置;运算部(22),其根据由所述多个单元(21A)得到的所述光的检测结果来检测所述受光部(21)中所述光的聚光位置,而且根据所述存储部(25)记忆的规定位置与所述受光部(21)中所述光的聚光位置的相对位置关系来计测距所述被测定物的距离。
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