[发明专利]电介质陶瓷及其制造方法、和叠层陶瓷电容器有效
申请号: | 200910166664.4 | 申请日: | 2009-08-26 |
公开(公告)号: | CN101665354A | 公开(公告)日: | 2010-03-10 |
发明(设计)人: | 村木智则;中村友幸;松田真;铃木宏规;笹林武久;石原雅之;盐田彰宏 | 申请(专利权)人: | 株式会社村田制作所 |
主分类号: | C04B35/468 | 分类号: | C04B35/468;H01G4/12;H01G4/30;C04B35/622 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 李香兰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及电介质陶瓷及其制造方法、和叠层陶瓷电容器,其目的是在叠层陶瓷电容器中即便将电介质陶瓷层的厚度变薄为小于1μm,也能够取得良好的寿命特性。作为构成电介质陶瓷层(2)的电介质陶瓷采用了主成分是BaTiO3系,作为副成分包含Li,Li含有量e[摩尔部分]相对于主成分100摩尔部分是0.5≤e≤6.0,关于该电介质陶瓷的颗粒,颗粒径的平均值Rg[μm]是0.06<Rg<0.17,更优选是0.06<Rg<0.14,其标准偏差σg[μm]是σg<0.075。 | ||
搜索关键词: | 电介质 陶瓷 及其 制造 方法 电容器 | ||
【主权项】:
1.一种电介质陶瓷,其主成分是BaTiO3系,其特征在于,作为副成分包含Li,Li含有量e[摩尔部分]相对于主成分100摩尔部分是0.5≤e≤6.0,关于该电介质陶瓷的颗粒,颗粒径的平均值Rg[μm]是0.06<Rg<0.17,其标准偏差σg[μm]是σg<0.075。
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