[发明专利]摄像装置、图像分析装置、外部光强度计算方法、图像分析方法无效

专利信息
申请号: 200910166668.2 申请日: 2009-08-26
公开(公告)号: CN101685363A 公开(公告)日: 2010-03-31
发明(设计)人: 吉本良治;藤原晶;山下大辅 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: G06F3/042 分类号: G06F3/042
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本国大*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种摄像装置、图像分析装置、外部光强度计算方法及图像分析法。其中,触碰位置检测装置(10)包括:至少一个外部光传感器(15),被配置在摄像传感器(12)的附近,并且,外部光传感器(15)的光检测灵敏度低于摄像传感器(12)的光检测灵敏度;以及外部光强度计算部(3),根据外部光传感器(15)的受光量来计算指示物体周围的光强度即外部光强度。由此,本发明能够准确计算出对其中包括多个摄像传感器的摄像画面进行指示的指示物体的周围的外部光强度。
搜索关键词: 摄像 装置 图像 分析 外部 强度 计算方法 方法
【主权项】:
1.一种摄像装置,包括具备多个摄像传感器的摄像画面,利用上述摄像传感器对靠近或接触上述摄像画面的指示物体进行图像拍摄,该摄像装置的特征在于,包括:至少一个外部光传感器,被配置在上述摄像传感器的附近,并且,光检测灵敏度低于上述摄像传感器的光检测灵敏度;以及外部光强度计算部,根据上述外部光传感器的受光量来计算上述指示物体周围的光强度即外部光强度。
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