[发明专利]荧光X射线分析装置

摘要

本发明提供如下的荧光X射线分析装置：通过与过去的测定结果信息的比较，能够进行容易的变化点管理。荧光X射线分析装置具有：输入部，其输入用于确定被测定物的特定信息；摄像部，其取得所述被测定物的测定部位图像；显示部，其在荧光X射线的测定后，至少显示被测定物的分析结果；以及数据库，其存储与所述特定信息对应的过去的测定信息，所述测定信息包含被测定物的测定部位图像和分析结果，所述显示部在荧光X射线的测定条件设定时，至少能够同时显示由所述摄像部得到的所述被测定物的测定部位图像、和存储在所述数据库中的测定信息中的与由所述输入部输入的特定信息对应的测定信息包含的所述被测定物的过去测定时的测定部位图像。

主权项

1.一种荧光X射线分析装置，该荧光X射线分析装置向被测定物照射X射线，通过测定从所述被测定物产生的荧光X射线，来分析所述被测定物的构成元素，其特征在于，该荧光X射线分析装置具有：输入部，其输入用于确定被测定物的特定信息；摄像部，其取得所述被测定物的测定部位图像；显示部，其在荧光X射线的测定后，至少显示所述被测定物的分析结果；以及数据库，其存储与特定信息对应的过去的测定信息，所述测定信息包含被测定物的测定部位图像和分析结果，所述显示部在荧光X射线的测定条件设定时，至少能够同时显示由所述摄像部得到的所述被测定物的测定部位图像、和存储在所述数据库中的测定信息中的与由所述输入部输入的特定信息对应的测定信息包含的所述被测定物的过去测定时的测定部位图像。