[发明专利]具有抑制特性偏移的结构的薄膜晶体管面板及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200910168653.X 申请日: 2006-10-20
公开(公告)号: CN101699624A 公开(公告)日: 2010-04-28
发明(设计)人: 石井裕满 申请(专利权)人: 卡西欧计算机株式会社
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L29/786;H01L29/417;H01L21/82;G02F1/1362;G02F1/1368
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 黄剑锋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种薄膜晶体管面板包括:基板(1);薄膜晶体管(3),形成在基板(1)上,具有栅电极(6)、栅绝缘膜(7)、半导体薄膜(8)、在半导体薄膜(8)上形成的一对欧姆接触层(10、11)、以及在各欧姆接触层(10、11)上形成的源电极(12)和漏电极(13),半导体薄膜(8)在源电极(12)和漏电极(13)之间具有沟道区域;像素电极(2),与薄膜晶体管(3)的源电极(12)连接;以及第一和第二导电性被覆膜(14、15),设置在源电极(12)侧和漏电极(13)侧的上部,由与像素电极(2)相同的材料形成;第一导电性被覆膜(14)的宽度比源电极(12)的宽度宽,第二导电性被覆膜(15)的宽度比漏电极(13)的宽度宽。
搜索关键词: 具有 抑制 特性 偏移 结构 薄膜晶体管 面板 及其 制造 方法
【主权项】:
一种薄膜晶体管面板,包括:基板(1);薄膜晶体管(3),形成在所述基板(1)上,具有栅电极(6)、栅绝缘膜(7)、半导体薄膜(8)、在所述半导体薄膜(8)上形成的一对欧姆接触层(10、11)、以及在所述各欧姆接触层(10、11)上形成的源电极(12)和漏电极(13),所述半导体薄膜(8)在所述源电极(12)和所述漏电极(13)之间具有沟道区域;像素电极(2),与所述薄膜晶体管(3)的所述源电极(12)连接;以及第一和第二导电性被覆膜(14、15),设置在所述源电极(12)和所述漏电极(13)的上部,由与所述像素电极(2)相同的材料形成,所述第一导电性被覆膜(14)被设置为宽度比所述源电极(12)的宽度宽,所述第二导电性被覆膜(15)被设置为宽度比所述漏电极(13)的宽度宽,并且与所述漏电极(13)的上表面接触,并且,从所述漏电极(13)延伸出来,以便跨过与所述漏电极(13)连接的漏极布线(5)的一部分。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于卡西欧计算机株式会社,未经卡西欧计算机株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910168653.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top