[发明专利]具有晶片层次的巨透镜的影像感测器无效

专利信息
申请号: 200910171678.5 申请日: 2009-09-04
公开(公告)号: CN102013430A 公开(公告)日: 2011-04-13
发明(设计)人: 张宇轩 申请(专利权)人: 英属盖曼群岛商恒景科技股份有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 英属盖曼群岛大盖曼岛贺*** 国省代码: 英国;GB
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摘要: 发明是有关于一种具有晶片层次的巨透镜的影像感测器,至少包含半导体基底、堆叠层及晶片层次的巨透镜(macrolens)。其中,半导体基底内具有多个光检测器。堆叠层位于半导体基底上方,其内形成有多个金属层。晶片层次的巨透镜形成于堆叠层上方,用以聚焦入射光线,使得整个像素阵列得以有效且简便地达到一致的光均匀度。
搜索关键词: 具有 晶片 层次 透镜 影像 感测器
【主权项】:
一种具有晶片层次的巨透镜的影像感测器,其特征在于其包含:一半导体基底,其内具有多个光检测器;一堆叠层,位于该半导体基底上方,该堆叠层内形成有多个金属层;以及一晶片层次的巨透镜,形成于该堆叠层上方。
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