[发明专利]光拾取装置有效

专利信息
申请号: 200910174610.2 申请日: 2009-09-18
公开(公告)号: CN101677005A 公开(公告)日: 2010-03-24
发明(设计)人: 江泉清隆;佐藤实 申请(专利权)人: 三洋电机株式会社
主分类号: G11B7/12 分类号: G11B7/12
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所 代理人: 刘新宇;陈立航
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种光拾取装置,抑制副推挽信号的SN比的下降并且满足视场特性的要求水准。该光拾取装置具备:激光光源,其选择性地发出第一或第二波长的激光;衍射光栅,其从激光生成主光束以及副光束,具有相位相互不同的周期结构的第一和第二区域以及相位与第一和第二区域不同的周期结构的、配设在第一和第二区域之间的第三区域;以及光检测器,其输出用于生成主推挽信号和副推挽信号的检测信号,其中,对与第三区域相应的入射到物镜的入射光的宽度和与第一和第二波长相应的物镜的孔径之间的关系进行调整,使得差动推挽信号的信号电平的最小值相对于最大值的比例为50%以上,副推挽信号相对于主推挽信号的信号电平的比例为15%以上。
搜索关键词: 拾取 装置
【主权项】:
1.一种光拾取装置,其特征在于,具备:激光光源,其能够选择性地发出波长相互不同的第一波长的激光以及第二波长的激光;衍射光栅,其衍射上述激光而生成主光束以及副光束,具有相位相互不同的周期结构的第一和第二区域以及相位与上述第一和第二区域不同的周期结构的、被配设在上述第一和第二区域之间的第三区域;物镜,其使通过上述衍射光栅而生成的上述主光束以及上述副光束聚光在光盘的同一轨道上;以及光检测器,其被反射光照射,输出用于生成主推挽信号以及副推挽信号的检测信号,其中,上述反射光是被聚光在上述光盘上的上述主光束以及上述副光束的反射光,其中,在上述激光的波长为上述第一和第二波长中的任一个的情况下,都对与上述第三区域相应的入射到上述物镜的入射光的宽度和与上述第一和第二波长相应的上述物镜的孔径之间的关系进行调整,使得根据上述主推挽信号以及上述副推挽信号而生成的差动推挽信号的信号电平的最小值相对于最大值的比例为50%以上,上述副推挽信号的信号电平相对于上述主推挽信号的信号电平的比例为15%以上。
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