[发明专利]墨表面检测系统有效

专利信息
申请号: 200910175897.0 申请日: 2009-09-25
公开(公告)号: CN101712235A 公开(公告)日: 2010-05-26
发明(设计)人: 中村宙健 申请(专利权)人: 兄弟工业株式会社
主分类号: B41J2/175 分类号: B41J2/175
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 车文;张建涛
地址: 日本爱知*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 墨表面检测系统具有墨盒和第一光学检测器,以及定位在第一光学检测器上方的第二光学检测器。墨盒具有墨室和枢转构件,该枢转构件具有被检测部分和浮动部分。在枢转构件的枢转运动的中心和枢转构件的第一端之间的第一距离不同于在枢转运动的中心和枢转构件的第二端之间的第二距离。本发明的技术优点在于在确保定位光学检测器的灵活性的同时在多个步骤中检测墨室中的墨表面的位置。
搜索关键词: 表面 检测 系统
【主权项】:
一种墨表面检测系统,包括:墨盒,所述墨盒包括:墨室,所述墨室构造成在其中存储墨;和枢转构件,所述枢转构件位于所述墨室中,且构造成随着存储在所述墨室中的墨的表面的位置而在所述墨室中枢转,其中所述枢转构件包括:被检测部分;和浮动部分,所述浮动部分具有比存储在所述墨室中的墨的比重小的比重;安装部分,所述墨盒构造成可拆卸地安装到所述安装部分;第一光学检测器,所述第一光学检测器位于所述安装部分处,所述第一光学检测器包括:第一光发射部分,所述第一光发射部分构造成当所述墨盒安装到所述安装部分时在与一路径相交的方向上发射光,所述被检测部分相对于所述墨室沿着所述路径移动;和第一光接收部分,所述第一光接收部分构造成随着所述被检测部分的在所述路径中的位置而选择性地采取两个状态;和第二光学检测器,所述第二光学检测器设置在所述安装部分处,位于所述第一光学检测器上方,所述第二光学检测器包括:第二光发射部分,所述第二光发射部分构造成当所述墨盒安装到所述安装部分时在与所述路径相交的所述方向上发射光;和第二光接收部分,所述第二光接收部分构造成随着所述被检测部分的在所述路径中的位置而选择性地采取两个状态,其中所述枢转构件构造成在第一平面中相对于所述墨室枢转,定位所述浮动部分和所述被检测部分,使得当所述墨盒安装到所述安装部分时第二平面位于所述浮动部分和所述被检测部分之间,所述第二平面与所述第一平面垂直,与所述枢转构件的枢转运动的中心相交,且与重力方向平行,所述浮动部分包括在所述浮动部分中定位成离所述枢转运动的中心最远的第一端,所述被检测部分包括在所述被检测部分中定位成离所述枢转运动的中心最远的第二端,并且其中在所述枢转运动的中心和所述第一端之间的第一距离不同于在所述枢转运动的中心和所述第二端之间的第二距离。
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