[发明专利]测量三维形状的方法和设备有效
申请号: | 200910179448.3 | 申请日: | 2009-10-13 |
公开(公告)号: | CN101726262A | 公开(公告)日: | 2010-06-09 |
发明(设计)人: | 金珉永;黄凤夏 | 申请(专利权)人: | 株式会社高永科技 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 韩明星;马翠平 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 一种测量三维形状的方法。为了测量三维形状,从数据库读取特征信息。将板传送到测量位置。将测量头转移到所述板的检测区域。将用于三维测量的第一发光装置的光和用于二维测量的第二发光装置的光照射到所述检测区域,以拍摄从所述检测区域反射的第一反射图像和第二反射图像。通过将所述特征信息与拍摄的第一反射图像和第二反射图像中的至少一个进行比较来检测所述检测区域的变形,以重新对准所述检测区域。检测重新对准的检测区域。因此,可精确地测量三维形状。 | ||
搜索关键词: | 测量 三维 形状 方法 设备 | ||
【主权项】:
一种测量三维形状的方法,包括:从数据库读取特征信息;将板传送到测量位置;将测量头转移到所述板的检测区域;将用于三维测量的第一发光装置的光和用于二维测量的第二发光装置的光照射到所述检测区域,以拍摄从所述检测区域反射的第一反射图像和第二反射图像;通过将所述特征信息与拍摄的第一反射图像和第二反射图像中的至少一个进行比较来检测所述检测区域的变形,以重新对准所述检测区域;检测重新对准的检测区域。
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