[发明专利]直线性测量方法及直线性测量装置有效

专利信息
申请号: 200910179471.2 申请日: 2009-10-20
公开(公告)号: CN101726278A 公开(公告)日: 2010-06-09
发明(设计)人: 清田芳永;市原浩一 申请(专利权)人: 住友重机械工业株式会社
主分类号: G01B21/30 分类号: G01B21/30;G01B21/20
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 黄剑锋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种可容易计算测量对象物的表面轮廓的直线性测量方法。将排列在第1方向的3个位移计和测量对象物的一方(活动物)相对于另一方(固定物)一边在第1方向移动,一边测量从3个位移计到分别在测量对象物的表面沿着在第1方向延伸的测量对象线排列的3个被测量点的距离。确定多个候选解,所述候选解由沿测量对象线的表面轮廓、固定在活动物的基准点的轨迹的仿形曲线的轮廓、及伴随活动物的移动的俯仰成分的轮廓中的2个轮廓来规定。将基于表面轮廓、仿形曲线的轮廓、及俯仰成分的轮廓中的未规定为候选解的轮廓来定义的评价函数的值作为适应度,对多个候选解适用遗传算法,提取适应度最高的候选解。
搜索关键词: 线性 测量方法 测量 装置
【主权项】:
一种直线性测量方法,其中,具有:使排列在第1方向、相对位置被固定的3个位移计与测量对象物相对,将该位移计及该测量对象物的一方的活动物,相对于另一方的固定物一边在第1方向移动,一边测量从3个位移计到分别在测量对象物的表面沿着在第1方向延伸的测量对象线排列的3个被测量点的距离的工序;确定多个候选解的工序,所述候选解由沿上述测量对象线的表面轮廓、固定在上述活动物的基准点的轨迹的仿形曲线的轮廓、及伴随上述活动物的移动的俯仰成分的轮廓中的2个轮廓来规定;将基于上述表面轮廓、上述仿形曲线的轮廓、及上述俯仰成分的轮廓中的未规定为上述候选解的轮廓来定义的评价函数的值作为适应度,对上述多个候选解适用遗传算法,提取适应度最高的候选解的工序。
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