[发明专利]以二维对比度为特征帧匹配测量位移的方法及装置无效
| 申请号： | 200910190925.6 | 申请日： | 2009-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN102022982A | 公开（公告）日： | 2011-04-20 |
| 发明（设计）人： | 曾艺 | 申请（专利权）人： | 重庆工商大学 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G06T7/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 400067 重庆市南*** | 国省代码： | 重庆;85 |
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| 摘要： | 以二维对比度为特征帧匹配测量位移的方法及装置，由一个计算机摄像头与一台普通的计算机组成；先在参考帧内提取x轴和y轴方向的边方向数据，作为被测物体反射图像的二维特征；对于各个轴方向，分别计算边方向数据的自关联系数，得到各自适合被测物反射面的最佳比较窗像素阵列，取其大者作为比较窗像素阵列；再分别沿各个坐标轴方向，把比较窗与取样帧进行边方向数据的交叉关联匹配计算，取其交叉关联系数值最大者作为最佳匹配者，籍此获得各个轴向的二维位移，取其平均值作为本次测量的位移；据此，调整比较窗的位置或更新参考帧，调整交叉关联匹配算子阵列的规模，以减少计算量，提高测量精度；本发明进一步克服了环境光照变化对测量的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 二维 对比度 特征 匹配 测量 位移 方法 装置 | ||
【主权项】：
以二维对比度为特征帧匹配测量位移的方法及装置，由一台普通的计算机与一个计算机摄像头组成，其特征在于，所述计算机系统还配置有摄像头拍摄及二维边方向数据帧匹配测量位移程序。
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