[发明专利]微观区域申请人技术空白点分析系统和方法无效

专利信息
申请号: 200910194686.1 申请日: 2009-08-27
公开(公告)号: CN101996224A 公开(公告)日: 2011-03-30
发明(设计)人: 唐向东;魏国柱 申请(专利权)人: 上海汉光知识产权数据科技有限公司
主分类号: G06F17/30 分类号: G06F17/30
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201203 上海市浦东新区*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本发明揭示了一种微观区域申请人技术空白点分析系统和方法。本发明以矩形表格的形式直观地显示在特定微观区域申请的专利按技术手段和功能效果的分布情况,矩形表格的一轴表示功能效果,另一轴表示技术手段,表格内交叉点上表示同时涉及对应技术手段和功能效果的专利的数量,交叉点图形的面积与对应专利的数目成正比,面积为零的点即代表本微观区域申请人技术空白点。本发明便于使用者对专利微观区域申请人技术空白点进行分析,有效地提高了专利分析的速度和效率,便于企业快速掌握特定区域内专利按技术手段和功能效果的分布情况,制定本企业的专利发展规划。
搜索关键词: 微观 区域 申请人 技术 空白点 分析 系统 方法
【主权项】:
一种专利微观区域申请人技术空白点分析系统,该系统包括用于存储所建专利专题的数据库和应用模块,其特征在于应用模块包括:专利数据采集模块,根据所需分析的专利主题导入存储在专利数据库中的相关专题;专利数据加工模块,对导入的数据进行深加工,删除不相关专利;专利数据标引模块,将加工后的数据按技术手段和功能效果进行标引;微观区域申请人技术空白点计算模块,计算特定申请区域内,同时涉及相应技术手段和相应功能效果的专利的数量;微观区域申请人技术空白点图像输出模块,输出一矩形表格,该矩形表格一轴为专利达到的功能效果,另一轴为专利所采用的技术手段,交叉点表示同时涉及相应技术手段和相应功能效果的专利的数量,所述交叉点图形的面积与专利数量成比例。
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