[发明专利]一种试样自动对中尺寸测量装置有效

专利信息
申请号: 200910194753.X 申请日: 2009-08-28
公开(公告)号: CN102003940A 公开(公告)日: 2011-04-06
发明(设计)人: 谢恩昕;卢长城 申请(专利权)人: 上海华龙测试仪器有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01N3/08
代理公司: 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 代理人: 傅戈雁
地址: 201202 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种尺寸自动测量装置,属于实验设备领域。一种试样自动对中尺寸测量装置,包括基板(1),横向设置于基板(1)上的X轴向导轨(2),导轨(2)上有移动连接板(3),连接板(3)上两侧安装有水平试样夹持气爪(6),垂直于X轴向导轨(2)设置有两座Y轴向导轨桥(7),两座桥之间为连接两桥的试样对中机构,所述试样对中机构包括连接两桥的对中板(8),对中板(8)下处于两桥中心线上有前后两个竖直对中臂(9),每个对中臂(9)连接两个水平对中轮(10),形成剪刀状开合结构,在X轴向导轨(2)侧面有试样测量机构,包括支座(15)和其上安装的由测量气缸(16)推动的测量光栅传感器(17)。
搜索关键词: 一种 试样 自动 尺寸 测量 装置
【主权项】:
一种试样自动对中尺寸测量装置,包括基板(1),在基板(1)上固定有试样夹持位移机构、试样对中位移机构、试样对中机构和试样测量机构,其特征在于:所述试样夹持位移机构包括横向设置于基板(1)上的X轴向导轨(2),导轨(2)上有移动连接板(3),连接板(3)上两侧安装有水平试样夹持气爪(6);所述试样对中位移机构包括固定在基板(1)上的垂直于X轴向导轨(2)并跨越X轴向导轨(2)设置的左右两座Y轴向导轨桥(7),两座导轨桥(7)等高且高于所述试样夹持气爪(6),两座导轨桥(7)之间为连接两桥的试样对中机构;所述试样对中机构包括连接两桥的对中板(8),对中板(8)下处于两桥中心线上有前后两个竖直对中臂(9),每个对中臂(9)连接两个水平对中轮(10),形成剪刀状开合结构,对中臂(9)上装有回复弹簧(11),所述对中臂(9)水平连接对中气缸(12),竖直连接对中提升气缸(13),所述对中板(8)连接对中移动气缸(14);所述试样测量机构包括设置在X轴向导轨(2)侧面并垂直于X轴向导轨(2)的支座(15),在支座(15)上安装由测量气缸(16)推动的测量光栅传感器(17)。
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