[发明专利]一种ESD保护装置有效
申请号: | 200910195956.0 | 申请日: | 2009-09-17 |
公开(公告)号: | CN102025135A | 公开(公告)日: | 2011-04-20 |
发明(设计)人: | 单毅;何军 | 申请(专利权)人: | 上海宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H02H9/00 | 分类号: | H02H9/00;H02H9/04;H01L23/60 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李丽 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种ESD保护装置,所述装置为多指MOS保护装置,包括:矩阵式排列的多个增强型MOS管;MOS管的源极和栅极接地;每个MOS管的寄生三极管的基极通过基极电阻接地;多指形金属层,金属层覆盖每一列MOS管的漏极并与漏极相邻的两列栅极交叠,金属层连接PAD并与漏极连接;金属层与栅极交叠形成寄生电容。本发明的ESD保护装置,在出现ESD脉冲时,寄生电容将栅极电压耦合到一个非零电位,产生足够的漏电流,使ESD保护装置的寄生三极管同时导通放电,降低了导通电压,导通均匀性好,ESD保护能力得到提高。 | ||
搜索关键词: | 一种 esd 保护装置 | ||
【主权项】:
一种ESD保护装置,其特征在于,所述装置为位于P阱中的多指NMOS保护装置,所述装置包括:矩阵式排列的多个增强型NMOS管;所述NMOS管的源极和栅极接地;每个所述NMOS管的寄生NPN管的基极通过基极电阻接地;多指形金属层,所述金属层覆盖每一列所述NMOS管的漏极并与所述漏极相邻的两列栅极交叠,所述金属层连接PAD并与所述漏极连接;所述金属层与所述栅极交叠形成寄生电容;当PAD上出现正的ESD脉冲时,所述寄生电容将栅极电压耦合到正电位,增大漏极到P阱的漏电流,提高寄生NPN管基极和发射极的压降,促进寄生NPN管的基极和发射极正偏,使所述寄生NPN管同时导通放电。
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