[发明专利]下置传感器式转轴测试机无效

专利信息
申请号: 200910197075.2 申请日: 2009-10-13
公开(公告)号: CN101672753A 公开(公告)日: 2010-03-17
发明(设计)人: 孙智红 申请(专利权)人: 昆山中瑞达电子有限公司
主分类号: G01N3/56 分类号: G01N3/56;G01L1/00
代理公司: 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 代理人: 翟 羽
地址: 215321江苏省苏州市昆山开发*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种下置传感器式转轴测试机,包含一机台、一动力装置、一框架以及一传感器。机台设有数个枢座供框架枢接,框架受动力装置驱动做往复摆动运动。机台上方设置一支撑台供一待测电子装置的主机置放,框架设有固定块固定电子装置的屏幕。支撑台由一向下延伸的延长杆连结一传感器,通过上述机构可驱动一待测电子装置的屏幕重复开阖,延长杆对传感器施力,可由传感器输出电子装置转轴的动、静摩擦力电子信号。
搜索关键词: 传感器 转轴 测试
【主权项】:
1、一种下置传感器式转轴测试机,包含:一机台,设置一动力装置及至少一枢座;一框架,结合在所述枢座枢转,所述框架受动力装置驱动做往复摆动运动;一支撑台,由至少一轴座固定在所述机台上方,且向下延伸一延长杆;其特征在于:所述支撑台下方设置一传感器,所述传感器具有一第一端、一第二端及一信号线,所述第一端固定在机台,所述第二端连结所述延长杆;其中当一电子装置置于所述支撑台进行测试时,所述延长杆对所述传感器施力,由所述信号线输出电子装置转轴摩擦力的电子信号。
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