[发明专利]具有浮动栅的非易失性存储器及其形成方法有效

专利信息
申请号: 200910197085.6 申请日: 2009-10-13
公开(公告)号: CN102044544A 公开(公告)日: 2011-05-04
发明(设计)人: 肖德元 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L29/423;H01L29/43;H01L21/8247;H01L21/28
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李丽
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种具有浮动栅的非易失性存储器及其形成方法,其中存储器包括复数个存储单元,其中,每一个存储单元包括:一衬底,在该衬底上的一源区、一漏区和两隔离区;一遂穿电介质层,形成于所述衬底表面;复数个浮动栅,形成于所述遂穿电介质层上;一栅间介质层,形成于所述浮动栅的表面;一控制栅,形成于所述的栅间介质层上;两侧墙,形成于所述控制栅的两侧;其中所述的复数个浮动栅为复数个纳米晶硅丘浮动栅。通过以上所述的技术方案,存储单元上具有高k遂穿电介质层;提供更低的电子势垒高度和更大的物理厚度;纳米晶硅丘浮动栅允许更薄的遂穿电介质层和更低的擦除电压;从而存储器可以在编程效率和数据保持性方面得到改善。
搜索关键词: 具有 浮动 非易失性存储器 及其 形成 方法
【主权项】:
具有浮动栅的非易失性存储器,其包括复数个存储单元,其中,每一个存储单元包括:一衬底,在该衬底上的一源区、一漏区和两隔离区;一遂穿电介质层,形成于所述衬底表面;复数个浮动栅,形成于所述遂穿电介质层上;一栅间介质层,形成于所述浮动栅的表面;一控制栅,形成于所述的栅间介质层上;两侧墙,形成于所述控制栅的两侧;其特征在于:所述的复数个浮动栅为复数个纳米晶硅丘浮动栅。
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