[发明专利]混合材料反型模式圆柱体全包围栅CMOS场效应晶体管无效
申请号: | 200910199720.4 | 申请日: | 2009-12-01 |
公开(公告)号: | CN101719498A | 公开(公告)日: | 2010-06-02 |
发明(设计)人: | 肖德元;王曦;张苗;陈静;薛忠营 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | H01L27/092 | 分类号: | H01L27/092;H01L29/16;H01L29/06;H01L29/10;H01L29/423 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 李仪萍;余明伟 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种混合材料反型模式圆柱体全包围栅CMOS场效应晶体管,其包括:具有第一沟道的PMOS区域、具有第二沟道的NMOS区域及栅区,其特征在于:所述的第一沟道及第二沟道均为圆柱体,且具有不同的半导体材料,所述的第一沟道为n型的Ge材料,所述的第二沟道为p型的Si材料;栅区域将所述第一沟道及第二沟道的表面完全包围;在PMOS与NMOS区域之间、PMOS区域或NMOS区域与Si衬底之间均有埋层氧化层将它们隔离。本器件结构简单、紧凑,集成度高,在反型工作模式下,采用圆柱体全包围栅结构,高介电常数栅介质和金属栅,可避免多晶硅栅耗尽及短沟道效应等。 | ||
搜索关键词: | 混合 材料 模式 圆柱体 包围 cmos 场效应 晶体管 | ||
【主权项】:
一种混合材料反型模式圆柱体全包围栅CMOS场效应晶体管,其包括:底层半导体衬底、具有第一沟道的PMOS区域、具有第二沟道的NMOS区域及一个栅区域,其特征在于:所述第一沟道及第二沟道均为圆柱体,且具有不同的半导体材料,所述第一沟道为n型Ge材料,所述第二沟道为p型Si材料;所述栅区域将所述第一沟道及第二沟道的表面完全包围;在所述PMOS区域与NMOS区域之间,除栅区域以外,设有第一埋层氧化层;在所述PMOS区域与所述底层半导体衬底之间或NMOS区域与所述底层半导体衬底之间,除栅区域以外,设有第二埋层氧化层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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