[发明专利]一种用于露点测量的采样系统无效
| 申请号： | 200910200134.7 | 申请日： | 2009-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN102087178A | 公开（公告）日： | 2011-06-08 |
| 发明（设计）人： | 杨文举;王志兰 | 申请（专利权）人： | 上海莫克电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/24 | 分类号： | G01N1/24;G01N25/66 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种用于露点测量的采样系统，包括冷却管，过滤器，两个压力采样室，流量控制器和采样泵，其特征在于，可以在带压环境或者常压环境下工作，采样压力范围为0至20bar大气压。该系统减少了采样系统的误差可能性，可以得到较为精确的测量结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 露点 测量 采样系统 | ||
【主权项】：
一种用于露点测量的采样系统，其特征在于包括冷却管，过滤器，两个压力采样室，流量控制器和采样泵。
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