[发明专利]用于测试电气连接拓扑结构的装置无效
| 申请号： | 200910200852.4 | 申请日： | 2009-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN101788624A | 公开（公告）日： | 2010-07-28 |
| 发明（设计）人： | 胡刚;刘齐山;李建平;邬忠勤;姜宏;王凤鸣 | 申请（专利权）人： | 上海磁浮交通发展有限公司;上海磁浮交通工程技术研究中心 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02;G01R1/02 |
| 代理公司： | 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 | 代理人： | 徐茂泰 |
| 地址： | 201204 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种用于测试电气连接拓扑结构的装置，其包含控制模块、多个与控制模块连接的测试模组、与测试模组连接的接线端子，以及与接线端子连接的测试插座；测试模组包含多个串联连接的测试单元；测试插座连接被测体上的多个测试点；测试单元包含信号控制模块。本发明内部采用模块化结构，测试规模控制及组织结构灵活，可根据不同被测机箱采用不同联接模块进行测试，将复杂的联接电路大大简化，便于测试装置的扩展和维护；采用小信号测试，避免对被测体的破坏，同时实现对几千点大型连接关系的快速测量分析。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 电气 连接 拓扑 结构 装置 | ||
【主权项】：
一种用于测试电气连接拓扑结构的装置，其特征在于，该装置包含控制模块(4)、多个与控制模块(4)连接的测试模组(1)、与测试模组(1)连接的接线端子(5)，以及与接线端子(5)连接的测试插座(6)；所述的测试模组(1)包含多个串联连接的测试单元(2)；所述的测试插座(6)连接被测体上的多个测试点(3)；所述的测试单元(2)包含信号控制模块(21)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海磁浮交通发展有限公司;上海磁浮交通工程技术研究中心，未经上海磁浮交通发展有限公司;上海磁浮交通工程技术研究中心许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200910200852.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
