[发明专利]一种浮体动态随机存储器的单元结构及其制作工艺有效

专利信息
申请号: 200910200965.4 申请日: 2009-12-25
公开(公告)号: CN101771052A 公开(公告)日: 2010-07-07
发明(设计)人: 肖德元;王曦;陈静 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L21/8242
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 李仪萍;余明伟
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种浮体动态随机存储器的单元结构及其制作工艺。其结构包括位于埋层氧化层上的P型半导体区、位于P型半导体区上的N型半导体区以及位于N型半导体区上的栅极区,N型半导体区、P型半导体区四周设有电隔离区。利用隔离的浮体栅二极管作存储节点,通过带与带间的隧道穿透,电子在浮体积聚定义为第一种存储状态;通过PN结正向偏置,电子从浮体发射出去或者空穴注入到浮体,定义为第二种存储状态;这两种状态造成浮体栅二极管(N+/P+)正向开启电压的差异,通过电流的大小可以感知。本发明是一种高效低功耗高密度栅二极管(N+/P+)浮体存储器单元,具备制作工艺简单、集成密度高、成本低廉及可靠性高等优点。
搜索关键词: 一种 动态 随机 存储器 单元 结构 及其 制作 工艺
【主权项】:
一种浮体动态随机存储器的单元结构,其特征在于:包括埋层氧化层、位于埋层氧化层上的第一P型半导体区、位于第一P型半导体区上的N型半导体区以及位于N型半导体区上的栅极区,所述栅极区包括栅介质层及位于栅介质层上的栅电极;在N型半导体区的一侧设有第二P型半导体区,并且第二P型半导体区与第一P型半导体区相连通;在N型半导体区、第一P型半导体区和第二P型半导体区形成的有源区周围设有电隔离区,将N型半导体区、第一P型半导体区和第二P型半导体区与其他单元隔离;第一P型半导体区及第二P型半导体区与N型半导体区形成的耗尽区和电隔离区包围形成浮体;在所述第二P型半导体区上设有位线电极。
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