[发明专利]一种浮体动态随机存储器的单元结构及其制作工艺有效
申请号: | 200910200965.4 | 申请日: | 2009-12-25 |
公开(公告)号: | CN101771052A | 公开(公告)日: | 2010-07-07 |
发明(设计)人: | 肖德元;王曦;陈静 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | H01L27/108 | 分类号: | H01L27/108;H01L21/8242 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 李仪萍;余明伟 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种浮体动态随机存储器的单元结构及其制作工艺。其结构包括位于埋层氧化层上的P型半导体区、位于P型半导体区上的N型半导体区以及位于N型半导体区上的栅极区,N型半导体区、P型半导体区四周设有电隔离区。利用隔离的浮体栅二极管作存储节点,通过带与带间的隧道穿透,电子在浮体积聚定义为第一种存储状态;通过PN结正向偏置,电子从浮体发射出去或者空穴注入到浮体,定义为第二种存储状态;这两种状态造成浮体栅二极管(N+/P+)正向开启电压的差异,通过电流的大小可以感知。本发明是一种高效低功耗高密度栅二极管(N+/P+)浮体存储器单元,具备制作工艺简单、集成密度高、成本低廉及可靠性高等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 动态 随机 存储器 单元 结构 及其 制作 工艺 | ||
【主权项】:
一种浮体动态随机存储器的单元结构,其特征在于:包括埋层氧化层、位于埋层氧化层上的第一P型半导体区、位于第一P型半导体区上的N型半导体区以及位于N型半导体区上的栅极区,所述栅极区包括栅介质层及位于栅介质层上的栅电极;在N型半导体区的一侧设有第二P型半导体区,并且第二P型半导体区与第一P型半导体区相连通;在N型半导体区、第一P型半导体区和第二P型半导体区形成的有源区周围设有电隔离区,将N型半导体区、第一P型半导体区和第二P型半导体区与其他单元隔离;第一P型半导体区及第二P型半导体区与N型半导体区形成的耗尽区和电隔离区包围形成浮体;在所述第二P型半导体区上设有位线电极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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