[发明专利]接触孔和接触孔的刻蚀方法有效
申请号: | 200910201057.7 | 申请日: | 2009-12-10 |
公开(公告)号: | CN102097359A | 公开(公告)日: | 2011-06-15 |
发明(设计)人: | 王新鹏;张海洋 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L21/311;H01L23/52 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 牛峥;王丽琴 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种接触孔的刻蚀方法:对层间介质层进行第一步主刻蚀,将刻蚀进行到氮化层的上方时停止;对所述层间介质层进行第二步主刻蚀,以层间介质层下的氮化层作为刻蚀终止层;所述第一步主刻蚀采用的源功率为1500~3000瓦;偏置功率为2000~4000瓦;氩气的流量为500~1500sccm;所述第二步主刻蚀采用的源功率为500~2000瓦;偏置功率为500~2000瓦;氦气的流量为100~1000sccm。本发明还公开了采用上述方法形成的接触孔。本发明形成的接触孔,增加了接触孔金属空隙填充能力,提高了接触孔Rc均匀性,减少了CT open缺陷,减少了接触孔和栅极结构相连通而短路的可能。 | ||
搜索关键词: | 接触 刻蚀 方法 | ||
【主权项】:
一种接触孔的刻蚀方法,所述刻蚀在刻蚀反应腔内进行,该方法包括:在层间介质层表面依次涂布底部抗反射层和光阻胶层,对所述光阻胶层进行曝光显影,定义接触孔的位置,然后以曝光显影后的光阻胶层为掩膜,对其下的底部抗反射层进行刻蚀;以曝光显影后的光阻胶层和底部抗反射层为掩膜,对所述层间介质层进行第一步主刻蚀,将刻蚀进行到氮化层的上方时停止;所述刻蚀气体包括四氟化碳;对所述层间介质层进行第二步主刻蚀,以层间介质层下的氮化层作为刻蚀终止层;所述刻蚀气体包括碳元素和氟元素的比例大于1∶4的气体;所述光阻胶层以及底部抗反射层的灰化;去除接触孔底面剩余的氮化层,以显露出下面的金属硅化物层;其特征在于,所述第一步主刻蚀采用的源功率为1500~3000瓦;偏置功率为2000~4000瓦;稀释气体氩气的流量为500~1500标准立方厘米每分钟sccm;所述第二步主刻蚀采用的源功率为500~2000瓦;偏置功率为500~2000瓦;稀释气体氦气的流量为100~1000sccm。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910201057.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体封装件及其制造方法
- 下一篇:一种高温炮孔导爆索保护装置
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造