[发明专利]建立大型试验设备三维坐标系的方法无效

专利信息
申请号: 200910201128.3 申请日: 2009-12-15
公开(公告)号: CN102095440A 公开(公告)日: 2011-06-15
发明(设计)人: 李洪波 申请(专利权)人: 上海宇航系统工程研究所
主分类号: G01D11/00 分类号: G01D11/00
代理公司: 上海航天局专利中心 31107 代理人: 张绪成
地址: 201108 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及大型综合试验设备,公开了一种建立大型试验设备三维坐标系的方法,包括:(1)设定基准面A和测量基准孔;(2)调整基准座[1]的基准面A为水平等高;(3)浇注固定底座;(4)调整坐标基准[2]的测量基准孔位于底座的正中心,上表面接近绝对水平;(5)利用测量基准孔确定坐标系的原点,用基准面A的三个共面的法线构成坐标系的X轴,测量基准孔与A的一点的连线在A面投影为Y轴,从而完成设备三维坐标系的建立。本发明解决了大型试验设备位置精度的保证问题,取得了实施结构简单、稳定性好、精度高等有益效果。
搜索关键词: 建立 大型 试验 设备 三维 坐标系 方法
【主权项】:
一种建立大型试验设备三维坐标系的方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:(1)在环形底座三等分处的三个基准座[1]的内侧中心位置设定基准面A;在环形底座中心的坐标基准[2]的中心位置设置测量基准孔;(2)环形底座在埋入地基浇注前,先调整好位置,保证底座上三个基准座[1]的基准面A均水平,且等高;(3)将底座浇注固定;(4)调整坐标基准[2]的位置,保证坐标基准[2]的测量基准孔位于环形底座的正中心,同时坐标基准[2]的上表面接近绝对水平;(5)利用坐标基准[2]的测量基准孔确定坐标系的原点,用基准面A的三个共面的法线构成坐标系的X轴,坐标基准[2]的测量基准孔与A的一点的连线在A面投影为Y轴,从而完成设备三维坐标系的建立。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海宇航系统工程研究所,未经上海宇航系统工程研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910201128.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top