[发明专利]提高纵向沟槽MOS器件的耐压的方法无效
| 申请号： | 200910201960.3 | 申请日： | 2009-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN102103999A | 公开（公告）日： | 2011-06-22 |
| 发明（设计）人： | 金勤海;刘春玲 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/336 | 分类号： | H01L21/336;H01L29/78 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 张骥 |
| 地址： | 201206 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种提高纵向沟槽MOS器件的耐压的方法，其为在沟槽MOS器件的接触孔形成之后，接触金属填入之前，进行接触孔位置处的离子注入，在接触孔下方形成掺杂类型与漂移区相反的接触孔注入区，注入深度比体区深但在漂移区之内。该方法能大大改善器件的截止时耐击穿电压。 | ||
| 搜索关键词： | 提高 纵向 沟槽 mos 器件 耐压 方法 | ||
【主权项】：
一种提高纵向沟槽MOS器件的耐压的方法，其特征在于：所述沟槽MOS器件的接触孔形成之后，接触金属填入之前，进行接触孔位置处的离子注入，在接触孔下方形成掺杂类型与漂移区相反的接触孔注入区，注入深度比体区深但在漂移区之内。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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