[发明专利]凸块底金属层的制造方法无效
申请号: | 200910203559.3 | 申请日: | 2009-05-20 |
公开(公告)号: | CN101894767A | 公开(公告)日: | 2010-11-24 |
发明(设计)人: | 陈家慧;蔡佳蓉;魏志男;郑智元;许雅雯;周若愚 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;G03F7/00 |
代理公司: | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 翟羽 |
地址: | 中国台湾高*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开一种凸块底金属层的制造方法。首先,形成一粘着层于晶圆的绝缘层与芯片垫上。接着,形成一第一光刻胶层于粘着层上。进行一图案化制造过程,以使第一光刻胶层通过局部移除而形成至少一第一开口。之后,形成一阻障层于第一开口中的粘着层上。加工第一光刻胶层,使第一开口扩大为一第二开口,且第二开口的侧壁与阻障层之间形成一第一间隙,其显露出粘着层。接着,形成一润湿层于第二开口中的阻障层以及粘着层上,而阻障层被包覆于润湿层与粘着层之间。 | ||
搜索关键词: | 凸块底 金属 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种凸块底金属层的制造方法,适用于一晶圆,所述晶圆具有一绝缘层以及显露于所述绝缘层下的至少一芯片垫,其特征在于:所述的凸块底金属层的制造方法包含下列步骤:形成一粘着层于所述绝缘层与所述芯片垫上;形成一第一光刻胶层于所述粘着层上;进行一图案化制造过程,以使所述第一光刻胶层通过局部移除而形成至少一第一开口;形成一阻障层于所述第一开口中的所述粘着层上;加工所述第一光刻胶层,使所述第一开口扩大为一第二开口,且所述第二开口的侧壁与所述阻障层之间形成一第一间隙,其显露出所述粘着层;以及形成一润湿层于所述第二开口中的所述阻障层以及所述粘着层上,而所述阻障层被包覆于所述润湿层与所述粘着层之间。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造