[发明专利]触控面板及触碰点的侦测方法有效
| 申请号： | 200910204135.9 | 申请日： | 2009-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN102043549A | 公开（公告）日： | 2011-05-04 |
| 发明（设计）人： | 吴仓志 | 申请（专利权）人： | 联阳半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/044 | 分类号： | G06F3/044 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 中国台湾新竹科*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种触控面板及触碰点的侦测方法，其中，触控面板包括至少一触控侦测列以及触碰点侦测模组。触控侦测列则包括N个第一触控侦测单元，其中N为正整数。各第一触控侦测单元依据被碰触的面积，来传送第一电容变化值。触碰点侦测模组依照第一触控侦测单元的排列顺序，使两个相邻的第一触控侦测单元传送的第一电容变化值进行差值运算，并藉以获得第一电容变化顺序分布。触碰点侦测模组并依据第一电容变化顺序分布来计算获得触控面板上的至少一个的第一触碰点数及第一触碰点的坐标。 | ||
| 搜索关键词： | 面板 触碰点 侦测 方法 | ||
【主权项】：
一种触控面板，包括：至少一触控侦测列，所述触控侦测列包括：N个第一触控侦测单元，各所述第一触控侦测单元依据被碰触的面积，来传送一第一电容变化值，其中N为正整数；以及一触碰点侦测模组，耦接所述多个第一触控侦测单元，依照所述N个第一触控侦测单元的排列顺序，使两个相邻的第一触控侦测单元传送的所述多个第一电容变化值进行一差值运算，以获得一第一电容变化顺序分布，所述触碰点侦测模组并依据所述第一电容变化顺序分布来计算获得所述触控面板上的至少一第一触碰点数及所述第一触碰点的坐标。
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