[发明专利]利用一坏扇区记录表来模拟测试逻辑硬盘的方法及装置无效
申请号: | 200910204317.6 | 申请日: | 2009-10-12 |
公开(公告)号: | CN102044278A | 公开(公告)日: | 2011-05-04 |
发明(设计)人: | 陈重江 | 申请(专利权)人: | 英业达股份有限公司 |
主分类号: | G11B20/18 | 分类号: | G11B20/18 |
代理公司: | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人: | 孙皓晨 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明一种利用一坏扇区记录表来模拟测试逻辑硬盘的方法及装置,其包含有:一选项只读存储器,接收且执行一实体要求指令;一坏扇区记录表,设置于该选项只读存储器中,执行该选项只读存储器的实体要求指令,提供坏扇区设置信息给该选项只读存储器;一硬盘固件,于坏扇区设置信息范围之外,提供一硬盘数据读写的指令来读写硬盘。利用该坏轨扇区记录表来模拟坏扇区的区块内的数据,不必真实对硬盘写入任何数据及制作真实坏扇区的区块,故可提高逻辑磁盘的测试速度。 | ||
搜索关键词: | 利用 扇区 记录 模拟 测试 逻辑 硬盘 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种利用一坏扇区记录表来模拟测试逻辑硬盘的装置,其特征在于,包含有:一选项只读存储器,接收且执行一实体要求指令;一坏扇区记录表,设置于该选项只读存储器中,执行该选项只读存储器的实体要求指令,提供坏扇区设置信息给该选项只读存储器;以及一硬盘固件,在坏扇区设置信息范围之外,提供一硬盘数据读写的指令来读写硬盘。
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