[发明专利]利用一坏扇区记录表来模拟测试逻辑硬盘的方法及装置无效

专利信息
申请号: 200910204317.6 申请日: 2009-10-12
公开(公告)号: CN102044278A 公开(公告)日: 2011-05-04
发明(设计)人: 陈重江 申请(专利权)人: 英业达股份有限公司
主分类号: G11B20/18 分类号: G11B20/18
代理公司: 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 代理人: 孙皓晨
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明一种利用一坏扇区记录表来模拟测试逻辑硬盘的方法及装置,其包含有:一选项只读存储器,接收且执行一实体要求指令;一坏扇区记录表,设置于该选项只读存储器中,执行该选项只读存储器的实体要求指令,提供坏扇区设置信息给该选项只读存储器;一硬盘固件,于坏扇区设置信息范围之外,提供一硬盘数据读写的指令来读写硬盘。利用该坏轨扇区记录表来模拟坏扇区的区块内的数据,不必真实对硬盘写入任何数据及制作真实坏扇区的区块,故可提高逻辑磁盘的测试速度。
搜索关键词: 利用 扇区 记录 模拟 测试 逻辑 硬盘 方法 装置
【主权项】:
一种利用一坏扇区记录表来模拟测试逻辑硬盘的装置,其特征在于,包含有:一选项只读存储器,接收且执行一实体要求指令;一坏扇区记录表,设置于该选项只读存储器中,执行该选项只读存储器的实体要求指令,提供坏扇区设置信息给该选项只读存储器;以及一硬盘固件,在坏扇区设置信息范围之外,提供一硬盘数据读写的指令来读写硬盘。
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