[发明专利]光学测量设备无效

专利信息
申请号: 200910205674.4 申请日: 2009-10-16
公开(公告)号: CN101726461A 公开(公告)日: 2010-06-09
发明(设计)人: 今西慎悟;新井健雄;堂胁优 申请(专利权)人: 索尼株式会社
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/64
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 杜诚;陈炜
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种光学测量设备,包括:光施加部分,配置为向在通道中流动的样品施加激光;以及荧光检测部分,配置为检测从用激光照射的样品产生的荧光;荧光检测部分包括:具有多个检测通道能够同时检测多个光束的多通道光电倍增管,光分离器,配置为根据波长分离荧光以提供多个光束,通过透射光栅或棱镜提供光分离器,以及远心汇聚透镜,配置为从光分离器接收多个光束,并将该多个光束导向多通道光电倍增管的多个检测通道,使得该多个光束的光轴彼此平行。
搜索关键词: 光学 测量 设备
【主权项】:
一种光学测量设备,包括:光施加部分,配置为向在通道中流动的样品施加激光;荧光检测部分,配置为检测从用所述激光照射的所述样品产生的荧光;所述荧光检测部分包括:具有能够同时检测多个光束的多个检测通道的多通道光电倍增管,光分离器,配置为根据波长分离所述荧光以提供所述多个光束,通过透射光栅或棱镜提供所述光分离器,以及远心汇聚透镜,配置为从所述光分离器接收所述多个光束,并将所述多个光束导向所述多通道光电倍增管的所述多个检测通道,使得所述多个光束的光轴彼此平行。
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