[发明专利]用于制造半导体器件的方法有效
申请号: | 200910206584.7 | 申请日: | 2009-10-22 |
公开(公告)号: | CN101728275A | 公开(公告)日: | 2010-06-09 |
发明(设计)人: | 须泽英臣;笹川慎也;村冈大河 | 申请(专利权)人: | 株式会社半导体能源研究所 |
主分类号: | H01L21/34 | 分类号: | H01L21/34;H01L21/28;H01L21/306;H01L21/3065 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 郭放 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的目的是建立用于制造使用氧化物半导体的半导体器件的加工技术。在衬底上方形成栅电极,在栅电极上方形成栅绝缘层,在栅绝缘层上方形成氧化物半导体层,通过湿法蚀刻加工氧化物半导体层以形成岛状氧化物半导体层,形成导电层以覆盖岛状氧化物半导体层,通过第一干法蚀刻加工导电层以形成源电极和漏电极,并且通过第二干法蚀刻去除岛状氧化物半导体层的一部分、或者通过干法蚀刻加工导电层以形成源电极和漏电极,并且通过所述干法蚀刻去除岛状氧化物半导体层的一部分以在岛状氧化物半导体层中形成凹陷部分。 | ||
搜索关键词: | 用于 制造 半导体器件 方法 | ||
【主权项】:
一种用于制造半导体器件的方法,包含以下步骤:在衬底的上方形成栅电极;在所述栅电极的上方形成栅绝缘层;在所述栅绝缘层的上方形成氧化物半导体层;通过湿法蚀刻加工所述氧化物半导体层以形成岛状氧化物半导体层;在所述岛状氧化物半导体层的上方形成导电层;通过第一干法蚀刻加工所述导电层以形成源电极和漏电极,以及通过第二干法蚀刻去除所述岛状氧化物半导体层的一部分以在所述岛状氧化物半导体层中形成凹陷部分。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造