[发明专利]一种存储器的测试系统及相关存储模块无效

专利信息
申请号: 200910212162.0 申请日: 2009-11-11
公开(公告)号: CN101714412A 公开(公告)日: 2010-05-26
发明(设计)人: 许人寿;丁国政 申请(专利权)人: 钰创科技股份有限公司
主分类号: G11C29/40 分类号: G11C29/40
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 梁挥;祁建国
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开一种存储器的测试系统及相关存储模块。其中公开一种以数据压缩方式的测试系统,该测试系统包含第三数据端、第一编码器及第二编码器。该测试系统用来接收测试数据与测试地址以测试一存储器是否有损坏的存储单元。该存储器包含第一数据端、第二数据端与地址端。该第一编码器用来根据该测试地址,将该测试数据编码为该第一数据端对应存储单元的数据型态。该第二编码器用来根据该测试地址,将该测试数据编码为该第二数据端对应存储单元的数据型态。如此该第一数据端与该第二数据端对应存储单元皆能储存相同的测试数据。
搜索关键词: 一种 存储器 测试 系统 相关 存储 模块
【主权项】:
一种存储器的测试系统,其特征在于,该存储器包含一第一存储单元、一第二存储单元、一第一数据端、一第二数据端与一地址端,该测试系统包含:一第三数据端,用来接收一测试数据;一第一编码器,耦接于该第三数据端、该第一数据端与该地址端,用来根据一测试地址,将该测试数据编码为一第一编码数据,并将该第一编码数据通过该第一数据端传送至该第一存储单元;及一第二编码器,耦接于该第三数据端、该第二数据端与该地址端,用来根据该测试地址,将该测试数据编码为一第二编码数据,并将该第二编码数据通过该第二数据端传送至该第二存储单元。
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