[发明专利]绝缘体上硅的正反导通横向绝缘栅双极晶体管有效
申请号: | 200910212766.5 | 申请日: | 2009-11-09 |
公开(公告)号: | CN101901830A | 公开(公告)日: | 2010-12-01 |
发明(设计)人: | 李海松;王钦;杨东林;刘侠;朱奎英;刘斯扬;易扬波 | 申请(专利权)人: | 苏州博创集成电路设计有限公司 |
主分类号: | H01L29/739 | 分类号: | H01L29/739;H01L29/08 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 楼高潮 |
地址: | 215123 江苏省苏州市苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种绝缘体上硅的正反导通横向绝缘栅双极晶体管,包括P型掺杂半导体衬底,P型掺杂外延层,N型掺杂阱区,N型掺杂缓冲区域,器件的阳极接触区域和阴极接触区域都是由P型阳极接触区域和N型阳极接触区域在器件的宽度方向上相互交替排列形成的,当器件的栅极电压大于阈值电压后,电流既可以正向导通,也可以反向导通,并且器件的阳极接触区域和阴极接触区域是各自交叉对称的结构,缩短了器件的关断时间,减少了器件的关断功耗。 | ||
搜索关键词: | 绝缘体 正反 横向 绝缘 双极晶体管 | ||
【主权项】:
一种绝缘体上硅的正反导通横向绝缘栅双极晶体管,包括:P型掺杂半导体衬底(1),在所述P型掺杂半导体衬底(1)上面设有埋氧层(2),在所述埋氧层(2)上设有P型掺杂外延层(3),在所述埋氧层(2)上、所述P型掺杂外延层(3)的左侧设有N型掺杂阱区(4),在所述埋氧层(2)上、所述P型掺杂外延层(3)的右侧设有N型掺杂阱区(5),在所述N型掺杂阱区(4)中设有N型掺杂缓冲区域(15),在所述N型掺杂缓冲区域(15)中设有P型阳极接触区域(6)和N型阳极接触区域(7),所述P型阳极接触区域(6)和所述N型阳极接触区域(7)在器件的宽度方向上是相互交替排列的,在所述N型掺杂阱区(5)中设有N型掺杂缓冲区域(16),在所述N型掺杂缓冲区域(16)中设有P型阴极接触区域(9)和N型阴极接触区(8),所述P型阴极接触区域(9)和所述N型阴极接触区(8)在器件的宽度方向上也是相互交替排列的。在所述N型掺杂阱区(4)和所述N型掺杂阱区(5)上均设有场氧化层(10),在所述P型外延层(3)和部分所述N型掺杂阱区(4)和所述N型掺杂阱区(5)上设有栅氧化层(11),在所述栅氧化层(11)上设有多晶硅(12),构成器件的栅极,所述N型阳极接触区域(7)上设有金属层(13),所述N型阴极接触区(8)上设有金属层(14),其特征在于,所述绝缘体上硅的正反导通横向绝缘栅双极晶体管的的阳极是由P型阳极接触区域(6)和N型阳极接触区域(7)构成,且P型阳极接触区域(6)和N型阳极接触区域(7)在器件的宽度方向上是相互交替排列的器件的,所述绝缘体上硅的正反导通横向绝缘栅双极晶体管的的阴极是由P型阴极接触区域(9)和N型阴极接触区(8)构成,且P型阴极接触区域(9)和N型阴极接触区(8)在器件的宽度方向上也是相互交替排列的。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州博创集成电路设计有限公司,未经苏州博创集成电路设计有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910212766.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:质子导电复合玻璃膜及其制备方法
- 下一篇:非晶变压器高压线圈绝缘加强工艺
- 同类专利
- 专利分类