[发明专利]电池管理芯片的自动测试仪无效

专利信息
申请号: 200910213420.7 申请日: 2009-10-26
公开(公告)号: CN102043120A 公开(公告)日: 2011-05-04
发明(设计)人: 许驩鑫;张永刚 申请(专利权)人: 昆山金鑫新能源科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 昆山四方专利事务所 32212 代理人: 盛建德
地址: 215300 江苏省昆山市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种电池管理芯片的自动测试仪,包括单片机、存储器、显示模块、基板电压提供模块、写入电压提供模块、按键开关模块、晶振和单片机等,该电池管理芯片的自动测试仪根据存储器中由操作人员预先设置好的参数数据,自动将从电池管理芯片中读取的数据进行采样、比对、写码和校验等操作,无需计算机就可完成全部测试操作,其操作简单,自动化程度高,大大提高了生产效率,其测试参数修改方便、软件升级方便、易于维护,且成本低、易于推广。
搜索关键词: 电池 管理 芯片 自动 测试仪
【主权项】:
一种电池管理芯片的自动测试仪,其特征在于:包括单片机(1)、存储器(2)、显示模块(3)、基板电压提供模块(4)、写入电压提供模块(5)和按键开关模块(6),晶振(7)给单片机提供工作频率,通讯数据线连接被测电池管理芯片(8)和单片机,按键开关模块将操作人员指令传递给单片机,单片机对所述存储器的参数数据进行存取,单片机控制所述基板电压提供模块给被测电池管理芯片供电,单片机读取被测电池管理芯片的存储数据并根据所述存储器(2)中的参数数据对被测电池管理芯片中的存储数据进行采样、比对、写码和校验,设有侦测电池工作环境温度的温度传感器(9),温度传感器将采集到的数据传递给单片机,单片机将温度传感器采集的数据与被测电池管理芯片中的温度数据进行比对,测试结束后单片机控制所述显示模块显示测试结果,单片机将数据写入被测电池管理芯片时由单片机控制所述写入电压提供模块给被测电池管理芯片供电。
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