[发明专利]一种表面缺陷视觉检测的高效路径规划方法

摘要

本发明涉及表面缺陷视觉检测领域，特别是一种表面缺陷视觉检测的高效路径规划方法。本发明采用的技术方案为：一种表面缺陷视觉检测的高效路径规划方法，用于规划摄像机与平台的相对运动路线，包括：计算两两检测框架之间的距离di，j；生成a个随机检测路径，得到初始检测路径P0；从路径P0的邻域中随机选择一个新的检测路径；计算新检测路径与当前路径的路程差值Δd，确定较优检测路径；与全局最优检测路径Pglobal比较，获得新路径Pglobal和新的温度tp；以新的路径Pglobal和新的温度tρ重复上述过程，直到温度t＜＝ε，所得到的Pglobal即为所求的检测路径。应用方法所得Pglobal控制摄像机(x轴)和平台(y轴)的相对运动，从而对各个框架进行检测，可以大大降低检测过程的时间，提高检测效率。

主权项

一种表面缺陷视觉检测的高效路径规划方法，用于规划摄像机与平台的相对运动路线，在获得各个检测框架中心坐标信息后，其特征在于还包括以下步骤：(11)按照读入框架的顺序给各个检测框架和模型视图原点(0，0)分配编号i，0≤i≤N，N为框架总数，原点编号为0；(12)按照各个框架的编号和中心的模型视图坐标，计算两两检测框架之间的距离di，j，形成检测框架距离矩阵D，(xi，yi)为出发点坐标，(xi，yj)为到达点坐标；(13)一开始生成a条随机检测路径，计算每条路径总的长度f，得到最大和最小检测路径长度maxf和minf，a为大于1的常数，并以minf的检测路径作为初始检测路径P0，全局最优检测路径Pglobal为P0，初始温度t0＝-(maxf-minf)/ln(b)，其中b为小于1的常数，内循环次数为大于1的正数n；(14)从路径P0的邻域中随机选择一个新的检测路径，假设1≤k＜m≤N，则将原检测路径Plocal＝(w0，w1，…，wk，wk+1，…，wm-1，wm，wm+1，…，wN)变为新检测路径P＝(w0，w1，…，wm，wm-1，…wk+1，wk，wm+1，…，wN)，此为路径邻域2-opt映射，即将路径序列两个点之间的序号逆序排列；(15)计算新检测路径与当前路径的路程差值Δd，根据路程差值Δd确定较优检测路径；(16)经过N次内循环，得到当前较优检测路径Plocal，与全局最优检测路径Pglobal比较，若Plocal总的路径距离比Pglobal较短，则用Plocal将Pglobal取代，否则Pglobal不变，并降低温度得到新的温度tρ；(17)以新的路径Pglobal和新的温度tρ重复(14)-(17)的过程，直到温度tρ＜＝ε，0≤ε＜1，所得到的Pglobal即为所求的检测路径。(18)应用方法所得a∈[1000，10000]控制摄像机和平台的相对运动。