[发明专利]方位多波束合成孔径雷达非均匀频谱重构方法无效
申请号: | 200910216504.6 | 申请日: | 2009-12-02 |
公开(公告)号: | CN101702027A | 公开(公告)日: | 2010-05-05 |
发明(设计)人: | 张顺生;周宝亮;戴春杨;孔令坤 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90 |
代理公司: | 成都惠迪专利事务所 51215 | 代理人: | 梁田 |
地址: | 610054 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种方位多波束合成孔径雷达非均匀频谱重构方法,属于合成孔径雷达信号处理技术,解决了现有技术中非均匀采样信号成像虚假率高、成像质量差的问题。该方法包括以下步骤:(1)建立周期性非均匀采样回波信号模型;(2)以FrFT频谱重构理论为基础推导出方位向多波束SAR非均匀采样信号的频谱重构算法;(3)将非均匀采样信号频谱重建为均匀采样信号频谱;(4)采用CS算法对均匀采样信号频谱进行成像,实现方位多波束SAR的二维聚焦成像。本发明不仅能够大大降低方位多波束合成孔径雷达的非均匀采样信号成像的虚假率,还能够大大提高成像质量。 | ||
搜索关键词: | 方位 波束 合成孔径雷达 均匀 频谱 方法 | ||
【主权项】:
方位多波束合成孔径雷达非均匀频谱重构方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)建立周期性非均匀采样回波信号模型;(2)以FrFT频谱重构理论为基础推导出方位向多波束SAR非均匀采样信号的频谱重构算法;(3)设定非均匀采样参数,并将非均匀采样信号频谱重建为均匀采样信号频谱;(4)采用CS算法对均匀采样信号频谱进行成像,实现方位多波束SAR的二维聚焦成像。
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