[发明专利]一种芯片电压信号的测试系统及其测试方法

摘要

本发明涉及一种芯片电压的测试系统和测试方法，所述的系统包括连接外部电源的取样电阻模块、测试模式选择控制寄存器、判断门限电压选择控制寄存器、待检测电压选通控制寄存器、比较器模块、数字采样处理模块，通过选通不同的判断门限电压(即参考电压)可以对芯片的不同电压信号进行检测和比较，再根据输出的比较结果判定待检测的芯片是否符合要求。进一步地，可以在本发明中增加一些控制逻辑模块对待测的芯片进行修整，以使芯片符合要求。本发明的方案可以在不增加测试焊盘的前提下，完成对芯片内部电压信号(包括敏感电压信号)的检测，节省芯片面积，适合自动化测试，且创造性地解决了当前部分检测电路复杂，耗时且成本高的问题，适于推广适用。

主权项

一种芯片电压信号的测试系统，其集成在芯片内部，用于测试芯片的电压，其特征在于，所述的系统包括：用于对判断门限电压进行取样的取样电阻模块、用于选通不同待检测电压并将待检测电压输入比较器模块的待检测电压选通控制寄存器、用于对检测到的电压与判断门限电压进行比较的比较器模块、判断门限电压选择控制寄存器和用于接受测试指令并对待检测电压选通控制寄存器和判断门限电压选择控制寄存器进行配置的测试模式选择控制寄存器，其中，取样电阻模块一端与外部电源电压VCC相连，另一端与判断门限电压选择控制寄存器连接；待检测电压选通控制寄存器一端与芯片内的待测模拟电路模块连接，另一端与比较器模块连接；比较器模块一端分别输入判断门限电压和检测电压，另一端与I/O连接，以输出比较的结果；判断门限电压选择控制寄存器内设有至少一个判断门限电压，其一端与所述的取样电阻模块的连接，另一端与比较器模块连接；测试模式选择控制寄存器一端与I/O连接，接收测试指令。