[发明专利]多光学系统光轴平行性检测仪无效
| 申请号： | 200910218067.1 | 申请日： | 2009-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN101718534A | 公开（公告）日： | 2010-06-02 |
| 发明（设计）人： | 叶露;赵强;张馥生 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 王淑秋 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种多光学系统光轴平行性检测仪，该检测仪的第一半反半透镜固定于导轨上，标校反射镜通过二维调整机构与导轨活动连接；折转反射镜通过二维调整机构与导轨滑块活动连接，导轨滑块可沿导轨移动；十字丝分划板位于准直系统的焦面上，光源照射十字丝分划板的一侧；准直系统发出的准直光束，一路透过第一半反半透镜入射到标校反射镜，另一路经过第一半反半透镜、折转反射镜反射后入射到锥体棱镜。本发明可以灵活应用于各种多光学系统光轴的平行性检测，通用性强，并且加工制造简单，成本低，装调方便，检测标定方便。 | ||
| 搜索关键词： | 光学系统 光轴 平行 检测 | ||
【主权项】：
一种多光学系统光轴平行性检测仪，包括第一半反半透镜(6)，折转反射镜(11)，光源(1)，准直系统(20)；其特征在于还包括十字丝分划板(3)，导轨(12)，导轨滑块(13)，标校反射镜(7)，锥体棱镜(9)；所述第一半反半透镜(6)固定于导轨(12)上，标校反射镜(7)通过二维调整机构与导轨(12)活动连接；折转反射镜(11)通过二维调整机构与导轨滑块(13)活动连接，导轨滑块(13)可沿导轨(12)移动；十字丝分划板(3)位于准直系统(20)的焦面上，光源(1)照射十字丝分划板(3)的一侧；准直系统(20)发出的准直光束，一路透过第一半反半透镜(6)入射到标校反射镜(7)，另一路经过第一半反半透镜(6)、折转反射镜(11)反射后入射到锥体棱镜(9)。
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