[发明专利]一种测量散粒物料颗粒形状参数的方法无效
| 申请号： | 200910218341.5 | 申请日： | 2009-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN101718674A | 公开（公告）日： | 2010-06-02 |
| 发明（设计）人： | 戈振扬;郭洁 | 申请（专利权）人： | 昆明理工大学 |
| 主分类号： | G01N15/10 | 分类号： | G01N15/10;G06T7/00 |
| 代理公司： | 昆明今威专利代理有限公司 53115 | 代理人： | 赛晓刚 |
| 地址： | 650093 云南省昆明*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量散粒物料颗粒形状参数的方法，是一种通过应用数码显微镜和计算机测量散粒物料颗粒形状参数的方法和软件。数码显微镜完成散粒颗粒物料图像采集，计算机完成采集到的图像的处理。该方法精简了测量散粒物料颗粒形状参数的过程，提高了测量的精确度，测量的软件是针对测量散粒物料颗粒形状参数而特殊处理和优化的，便于高效地测量散粒物料颗粒形状相关的各种参数信息。可广泛应用于需测量散粒物料颗粒形状参数的领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 物料 颗粒 形状 参数 方法 | ||
【主权项】：
一种测量散粒物料颗粒形状参数的方法，该方法包括下列步骤：将载玻片在1％～2％浓度的盐酸中浸泡，除去表面杂物后用蒸馏水洗净晾干备用；取样所要测量散粒物料颗粒，该颗粒大小范围应该在1nm～1mm；其特征在于：超出大小范围1nm～1mm的颗粒，调节数码显微镜使之可摄像部分包括整个颗粒并取其图像保存为位图格式的图像；用测量散粒物料颗粒形状参数的软件处理上述保存的位图图像得到相应颗粒的形状参数。
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