[发明专利]一种测定磁性纳米粒子表面端羧基含量的方法有效

专利信息
申请号: 200910218749.2 申请日: 2009-11-02
公开(公告)号: CN101706420A 公开(公告)日: 2010-05-12
发明(设计)人: 彭明丽;王苗;崔亚丽;陈超;支泽仑 申请(专利权)人: 陕西北美基因股份有限公司
主分类号: G01N21/33 分类号: G01N21/33
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 徐平
地址: 710069 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种测定磁性纳米粒子表面端羧基含量的方法,即把羧基化的纳米粒子利用共价结合法制备成荧光纳米粒子,利用紫外分光光度计或荧光分光光度计测出紫外吸收峰值或荧光吸收峰值,再与标准曲线对比,计算出羧基的含量。该方法工艺简单,操作简便,专属性强,方法的线性、稳定性、重现性均达较好的技术要求,能够有效地对纳米材料表面端羧基进行定量分析。
搜索关键词: 一种 测定 磁性 纳米 粒子 表面 羧基 含量 方法
【主权项】:
一种测定磁性纳米粒子表面端羧基含量的方法,其特征在于:该方法包括以下步骤1)作标准工作曲线配制不同浓度的有机荧光分子溶液作为标准工作液;用分光光度计测出各标准工作液的最大吸收峰值,作线性工作曲线,得到曲线的回归线方程;2)表面含羧基的磁性纳米粒子的荧光修饰配制设定浓度的有机荧光分子溶液待用,取表面含有羧基的磁性纳米粒子水相悬浮液,磁分离,弃上清,再加入前述配制好的有机荧光分子溶液,摇匀,在60℃~90℃孵育1~5小时,磁分离,移出上清溶液作为样液,并用分光光度计测出样液的最大吸收峰值;3)计算磁性纳米粒子表面羧基含量利用回归线方程计算出样液的浓度,利用反应前后有机荧光分子在溶液中的浓度差计算出磁性纳米粒子表面羧基的含量。
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