[发明专利]一种可测量复杂回转体零件表面轮廓的仪器无效
| 申请号： | 200910219566.2 | 申请日： | 2009-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN102102976A | 公开（公告）日： | 2011-06-22 |
| 发明（设计）人： | 戴桂秋 | 申请（专利权）人： | 西安威而信精密仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/28 | 分类号： | G01B7/28 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 王少文 |
| 地址： | 710075 陕西省西安市高*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种可测量复杂回转体零件表面轮廓的仪器，包括工作台、设于工作台上的轮廓仪，所述轮廓仪包括设置在工作台上的Z轴气浮立柱、设置在Z轴气浮立柱上的X轴气浮导轨、设置在X轴气浮导轨上的传感器和测针、通过导轨安装在工作台上的移动平台；所述测针与工作台的X轴平行；仪器还包括设置工作台上的三维台，三维台上设置有可夹持被测零件的夹爪；三维台的中心轴位于测针所在直线上。可在一台仪器上实现对轮廓和圆度的同时测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 可测量 复杂 回转 零件 表面 轮廓 仪器 | ||
【主权项】：
一种可测量复杂回转体零件表面轮廓的仪器，包括工作台(1)、设于工作台(1)上的轮廓仪，所述轮廓仪包括设置在工作台(1)上的Z轴气浮立柱(9)、设置在Z轴气浮立柱(9)上的X轴气浮导轨(2)、设置在X轴气浮导轨(2)上的传感器(8)和测针(3)、通过导轨(10)安装在工作台上的移动平台(7)；所述测针(3)与工作台(1)的X轴平行；其特征在于：所述仪器还包括设置工作台(1)上的三维台(6)，所述三维台(6)上设置有可夹持被测零件(4)的夹爪；所述三维台(6)的中心轴位于测针(3)所在直线上。
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