[发明专利]工件斜面位置检测方法无效
申请号: | 200910219990.7 | 申请日: | 2009-11-19 |
公开(公告)号: | CN101706240A | 公开(公告)日: | 2010-05-12 |
发明(设计)人: | 孙先伟;赵宏宇;褚雁鹏 | 申请(专利权)人: | 中国华录·松下电子信息有限公司 |
主分类号: | G01B5/02 | 分类号: | G01B5/02 |
代理公司: | 大连非凡专利事务所 21220 | 代理人: | 曲宝威 |
地址: | 116000 辽宁省大连市高新技术*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 一种工件斜面位置检测方法,用于对具有相互垂直面且有斜面的工件上的斜面位置进行检测。步骤如下:a、将工件和基准块置于平板上,使工件的基础面与平板上平面相接触,工件上与基础面相垂直的侧面靠在基准块的侧面上;b、将半径为r的圆柱状量规置于工件上的与基础面呈β角的斜面上并靠在基准块的侧面上;c、利用千分表测出量规上方最高点与平板上平面之间的距离A;d、利用公式a=A-r-r/tg(90-β)/2计算出a值,a值为斜面的低端处距平板上平面的间距。与现有技术相比,利用了高精度的千分表和数学计算相结合的方式,使检测出的斜面低端距基础面之间的尺寸精度提高,可达0.0010mm,操作方便。 | ||
搜索关键词: | 工件 斜面 位置 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种工件斜面位置检测方法,包括如下步骤:a、将工件(1)和基准块(4)置于平板(6)上,使工件(1)的基础面与平板(6)上平面相接触,工件(1)上与基础面相垂直的侧面靠在基准块(4)的侧面上;b、将半径为r的圆柱状量规(3)置于工件(1)上的与基础面呈β角的斜面(5)上并靠在基准块(4)的侧面上;c、利用千分表(2)测出量规(3)上方最高点与平板上平面(6)之间的距离A;d、利用公式a=A-r-r/tg(90-β)/2计算出a值,a值为斜面(5)的低端处距平板(6)上平面的间距。
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