[发明专利]判定盘片类型的方法无效
申请号: | 200910221053.5 | 申请日: | 2009-11-09 |
公开(公告)号: | CN101763871A | 公开(公告)日: | 2010-06-30 |
发明(设计)人: | 彼特·佛比克;琴·丹姆;穆罕默德·艾尔荷森;史蒂芬·杰森 | 申请(专利权)人: | 建兴电子科技股份有限公司 |
主分类号: | G11B19/10 | 分类号: | G11B19/10;G11B7/12 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 中国台湾台北市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提出一种判定盘片类型的方法,该方法包括:选择一第一光路径以产生一光束;根据该第一光路径以移动对应于该第一光路径的一第一物镜,其中该第一物镜将该光束聚焦于一光点,且于该第一物镜移动的期间,该光点亦跟着移动;接收一侦测器输出信号,其中该侦测器输出信号包括一中央孔隙信号;分析该中央孔隙信号,并设定该中央孔隙信号在一第一方向跨越一第一门槛值时为一第一位置;分析该中央孔隙信号,并设定该中央孔隙信号在一第二方向跨越一第二门槛值时为一第二位置,其中该第二方向不同于该第一方向;以及根据该第一位置和该第二位置判定该盘片类型。 | ||
搜索关键词: | 判定 盘片 类型 方法 | ||
【主权项】:
一种判定盘片类型的方法,该方法包含:选择一第一光路径以产生一光束;根据该第一光路径以移动对应于该第一光路径的一第一物镜,其中该第一物镜将该光束聚焦于一光点,且于该第一物镜移动的期间,该光点亦跟着移动;接收一侦测器输出信号,其中该侦测器输出信号包括一中央孔隙信号;分析该中央孔隙信号,并设定该中央孔隙信号在一第一方向跨越一第一门槛值时为一第一位置;分析该中央孔隙信号,并设定该中央孔隙信号在一第二方向跨越一第二门槛值时为一第二位置,其中该第二方向不同于该第一方向;以及根据该第一位置和该第二位置判定该盘片类型。
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