[发明专利]液晶预倾角量测系统与方法有效
申请号: | 200910221056.9 | 申请日: | 2009-11-09 |
公开(公告)号: | CN102053398A | 公开(公告)日: | 2011-05-11 |
发明(设计)人: | 江直融;刘志祥;庄明颖;庄凯评;罗偕益 | 申请(专利权)人: | 财团法人工业技术研究院 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G01M11/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周长兴 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种液晶预倾角的量测系统与方法,投射线性偏振光束至一待测样品上,并由偏振光接收模块分离通过待测样品后的穿透光形成具有垂直及水平偏振态的光束,然后再计算归一化穿透光谱强度。由量测不同入射角的偏振光束所具有的归一化穿透光谱强度,再通过数学运算以液晶物理模型拟合进而求解液晶预倾角。 | ||
搜索关键词: | 液晶 倾角 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种液晶预倾角量测系统,包括:一光学模块,包括有;一偏振光发射模块,可提供至少一侦测光至一待测样品上以形成一穿透光;以及一偏振光接收模块,接收该穿透光以得到一穿透光谱;一旋转控制单元,可提供改变该侦测光的入射该物体的入射角度;以及一讯号处理单元,与该偏振光接收模块电讯连接,该讯号处理单元是以一穿透光谱拟合函数拟合该对应不同入射角下所具有的穿透光谱以得到该待测样品所具有的液晶预倾角,该穿透光谱拟合函数为关于偏振光学组件所具有的穿透轴角度以及利用复数个液晶子层所拟合关于液晶的光学特性的一液晶状态矩阵的关系函数,该液晶状态矩阵为关于液晶预倾角的关系矩阵。
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