[发明专利]探针卡与其中的结构强化的测试插座

摘要

本发明公开了一种探针卡与其中的结构强化的测试插座，其中结构强化的测试插座主要包含多个测试探针、扁平状的壳体、盖体、多个第一锁合组件、至少一个第一强化构件、至少一个第二强化构件与多个第二锁合组件。壳体设有至少一个第一容置空间及至少一个第二容置空间分别用以设置第一强化构件及第二强化构件，多个第二锁合组件穿透第一强化构件、壳体及第二强化构件，使壳体稳固地夹持于第一强化构件与第二强化构件之间，且第一强化构件与第二强化构件的杨氏系数高于壳体的杨氏系数。

主权项

一种结构强化的测试插座，包含多个测试探针、一扁平状的壳体、一盖体与多个第一锁合组件，该壳体具有第一面与第二面，该第二面开设一凹陷部以供该盖体容设其中，所述多个第一锁合组件系将该壳体与该盖体互相连接锁固，其特征在于：该结构强化的测试插座进一步包含至少一个第一强化构件、至少一个第二强化构件与多个第二锁合组件，其中该第一强化构件与第二强化构件的杨氏系数高于该壳体的杨氏系数；该壳体的第一面凹设有至少一个第一容置空间，该第一容置空间用以设置该第一强化构件，并使该第一强化构件不凸出于该壳体的第一面；该壳体与该盖体之间形成有至少一个第二容置空间，该第二容置空间用以设置该第二强化构件，并使该第二强化构件对应于该第一强化构件；该多个第二锁合组件穿透该第一强化构件、该壳体与该第二强化构件，使该壳体稳固地夹持于该第一强化构件与该第二强化构件之间，且互相结合；以及各测试探针同时穿透该壳体与该盖体，其一端用以接触一半导体装置，另一端用以接触一电路板组成。