[发明专利]具有挠曲性按压区的采样装置有效

专利信息
申请号: 200910223675.1 申请日: 2009-11-23
公开(公告)号: CN102068262A 公开(公告)日: 2011-05-25
发明(设计)人: 黄俊维;陈敏华;谢培焕 申请(专利权)人: 财团法人金属工业研究发展中心
主分类号: A61B5/154 分类号: A61B5/154;A61B5/157
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 中国台湾高雄*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种具有挠曲性按压区的采样装置,其包含:一个界定出一个容室的壳件及一个针头。该壳件具有呈相反设置的一个第一壁体及一个第二壁体。该第一壁体具有一个能够朝向该容室挠曲的按压区。所述第一、二壁体分别具有一个相互对应设置且与该按压区相间隔设置的采样区。所述第一、二壁体的采样区共同界定出一与该容室相通的管道。该针头是设置于该管道,藉此设计,本发明在简化采样及检测流程的同时,也能够降低采样样本被污染的可能性,并提升样本的检验值的精准度。
搜索关键词: 具有 挠曲 按压 采样 装置
【主权项】:
一种具有挠曲性按压区的采样装置,包含一个壳件,及一个针头,其特征在于:该壳件界定出一个容室,且具有呈相反设置的一个第一壁体及一个第二壁体,该第一壁体具有一个能够朝向该容室挠曲的按压区,所述第一、二壁体分别具有一个相互对应设置且与该按压区相间隔设置的采样区,所述第一、二壁体的采样区共同界定出一个与该容室相通的管道,该针头设置于该管道。
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