[发明专利]荧光检测装置无效
申请号: | 200910226593.2 | 申请日: | 2009-11-25 |
公开(公告)号: | CN101858865A | 公开(公告)日: | 2010-10-13 |
发明(设计)人: | 中野尚久;斋藤勉 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 许海兰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的荧光检测装置,具备:向荧光体照射激励荧光体(11)的激励光的照明装置(L1);接受荧光体的发光,只检测出特定波长的光的第一受光部件(16);接受荧光体的发光,检测出包含特定波长频带以及其以上更宽频带的光的第二受光部件(18);根据来自第一受光部件的检测信号和来自第二受光部件的检测信号,判断荧光体的真伪的判断部件(20)。 | ||
搜索关键词: | 荧光 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种荧光检测装置,检测出附着在被检查介质上的以特定的波长发光的荧光体,其特征在于包括:照明装置,向上述被检查介质照射激励上述荧光体的激励光;第一受光部件,接受上述被检查介质的荧光体发出的光,只检测出上述特定波长的光;第二受光部件,接受上述被检查介质的荧光体发出的光,检测出包含上述特定波长频带以及更宽频带的光;判断部件,根据来自上述第一受光部件的检测信号和来自上述第二受光部件的检测信号,判断上述荧光体的真伪。
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