[发明专利]硅钢绝缘涂层厚度近红外光谱检测方法有效
| 申请号： | 200910227832.6 | 申请日： | 2009-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN101750024A | 公开（公告）日： | 2010-06-23 |
| 发明（设计）人： | 郝惠敏;马莹;郝俊宇;乔聪明;赵建宏;杨斌;刘雅俊 | 申请（专利权）人： | 山西太钢不锈钢股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 太原市科瑞达专利代理有限公司 14101 | 代理人： | 刘宝贤 |
| 地址： | 030003*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种硅钢绝缘涂层厚度近红外光谱检测方法，其特征在于：采用声光可调滤波器近红外光谱仪采集硅钢表面绝缘涂层的近红外光谱；建立包含绝缘涂层近红外光谱和涂层厚度标准值的样本数据库；根据绝缘涂层样本数据库建立由预处理模块和核偏最小二乘模块组成的绝缘涂层厚度分析模型，预处理模块的输入为样本数据库中的近红外光谱数据，预处理模块的输出作为核偏最小二乘模块的输入，处理后输出绝缘涂层的厚度值；将采集到的硅钢表面绝缘涂层的近红外光谱数据输入绝缘涂层厚度分析模型即可得出绝缘涂层的厚度值。本发明扩展了近红外光谱仪的应用领域，实现了硅钢表面半有机绝缘涂层厚度的检测，具有快速、准确、可靠等特点。 | ||
| 搜索关键词： | 硅钢 绝缘 涂层 厚度 红外 光谱 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种硅钢绝缘涂层厚度近红外光谱检测方法，其特征在于：采用声光可调滤波器近红外光谱仪采集硅钢表面绝缘涂层的近红外光谱；建立绝缘涂层样本数据库，样本数据库中包含样本的绝缘涂层近红外光谱和涂层厚度标准值；根据绝缘涂层样本数据库建立绝缘涂层厚度分析模型，绝缘涂层厚度分析模型由预处理模块和核偏最小二乘模块组成，预处理模块的输入为样本数据库中样本的绝缘涂层近红外光谱数据，预处理模块的输出作为核偏最小二乘模块的输入，经核偏最小二乘模块处理后输出绝缘涂层的厚度值；将采集到的硅钢表面绝缘涂层的近红外光谱数据输入绝缘涂层厚度分析模型即可得出绝缘涂层的厚度值。
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