[发明专利]透明外延p-n异质结薄膜及其制备方法无效

专利信息
申请号: 200910236143.1 申请日: 2009-10-20
公开(公告)号: CN101697354A 公开(公告)日: 2010-04-21
发明(设计)人: 焦兴利;王海峰;刘亲壮;吴文彬 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: H01L29/15 分类号: H01L29/15;H01L21/363
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 关畅
地址: 230026 安徽省合*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种透明外延p-n异质结薄膜及其制备方法。该薄膜,包括作为单晶衬底基片的SrTiO3和位于单晶衬底基片之上的LaxSr1-xSnO3外延薄膜及位于所述LaxSr1-xSnO3外延薄膜之上的下述两外延薄膜中的任意一种:PbZr0.52Ti0.48O3外延薄膜和BiFeO3外延薄膜;LaxSr1-xSnO3外延薄膜中,0.03≤x≤0.07。本发明提供的p-n异质结薄膜,各层薄膜均具有很好的单晶外延性且均为钙钛矿结构,不仅具有很好的整流特性,而且整个器件在光波长400-2500nm(p层为PZT)、500-2500nm(p层为BFO)范围内具有高的透过率;p层材料(PZT,BFO)同时也是铁电材料,其中BFO在具有铁电性的同时还具有反铁磁性,在半导体器件的应用中会有更大的潜力。
搜索关键词: 透明 外延 异质结 薄膜 及其 制备 方法
【主权项】:
一种透明外延p-n异质结薄膜,包括作为单晶衬底基片的SrTiO3和位于所述单晶衬底基片之上的LaxSr1-xSnO3外延薄膜及位于所述LaxSr1-xSnO3外延薄膜之上的下述两外延薄膜中的任意一种:PbZr0.52Ti0.48O3外延薄膜和BiFeO3外延薄膜;所述LaxSr1-xSnO3外延薄膜中,0.03≤x≤0.07。
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