[发明专利]基于高光谱空间散射曲线的苹果硬度无损检测方法

摘要

本发明公开了一种基于高光谱空间散射曲线的苹果硬度无损检测方法，包括步骤：样本的选取；高光谱数据的采集；硬度的标准值的测定；对高光谱数据的处理；硬度预测模型的建立和评价。本发明的技术方案通过获取携带苹果内部组织(与苹果的硬度直接相关)信息的高光谱空间散射曲线得到空间散射曲线的拟合参数，利用该参数建立硬度预测模型，从而能够利用该模型实现对苹果硬度的检测。

主权项

一种基于高光谱空间散射曲线的苹果硬度无损检测方法，包括以下步骤：S1，样本的选取：选择大小相当、表面无明显疤痕的苹果作为样本；S2，高光谱数据的采集：利用高光谱图像采集系统对每个苹果采集赤道等距离处n点的光谱图像，将n幅图像的平均光谱图像作为该苹果的高光谱图像；S3，硬度的标准值的测定：在对每个苹果采集光谱图像的位置利用硬度计测得n点的硬度值，将该n点的硬度值的平均值作为每个苹果硬度的标准值；S4，对高光谱数据的处理：将样本分为校正组和验证组；并用垂直于光谱轴的直线截取每个苹果的所述高光谱图像，获取每个苹果的空间散射曲线，并对所述空间散射曲线进行拟合，得到空间散射曲线的拟合参数；S5，硬度预测模型的建立和评价：基于校正组采用多种化学计量方法利用所述拟合参数建立硬度预测模型，并基于验证组对所述硬度预测模型进行验证，根据预测值与标准值的比较结果选取最优硬度预测模型。